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00級花崗巖拋光機底座

簡要描(miao)述(shu):00級花(hua)崗巖拋光機(ji)底座 是精密平臺量具,采(cai)用優質“濟(ji)南青“石(shi)料經機(ji)械加工和手(shou)工精磨制成,精密大理石(shi)平臺黑(hei)色光澤,結(jie)構精密,經過億萬年的老化(hua),質地均勻,穩(wen)定性好、強度大、硬度高

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品牌其他品牌產地類別國產
應用領域化工,石油,電子,冶金,制藥

00級花崗巖拋光機底座 

00級花崗巖拋光機底座 采用(yong)優質“濟南青”石料(liao)經機械(xie)加工(gong)和(he)手工(gong)精(jing)(jing)磨(mo)制成(cheng)(cheng)。大理石平臺(tai)(tai)從切割定型,粗研(yan)磨(mo)到(dao)(dao)進恒(heng)溫室細研(yan)磨(mo),前后要求(qiu)精(jing)(jing)度(du)高(gao),溫度(du)適(shi)宜。大理石平臺(tai)(tai)適(shi)用(yong)于精(jing)(jing)度(du)要求(qiu)高(gao)的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)面。大理石平臺(tai)(tai)檢測(ce)(ce)法(fa)是一(yi)種積木式的(de)(de)檢測(ce)(ce)方(fang)法(fa),它(ta)在(zai)大理石平臺(tai)(tai)上通(tong)過某些量(liang)具、量(liang)儀和(he)輔助工(gong)具的(de)(de)組合(he),實現測(ce)(ce)量(liang)目的(de)(de)。大理石平臺(tai)(tai)檢測(ce)(ce)一(yi)般為(wei)相對(dui)測(ce)(ce)量(liang)。通(tong)過某些設(she)備(bei)按一(yi)定的(de)(de)幾何管(guan)線組合(he)形成(cheng)(cheng)測(ce)(ce)量(liang)所需的(de)(de)標(biao)(biao)準量(liang),與(yu)被(bei)測(ce)(ce)量(liang)進行(xing)比較,測(ce)(ce)出被(bei)測(ce)(ce)量(liang)與(yu)標(biao)(biao)準量(liang)的(de)(de)差值(zhi),從而得到(dao)(dao)被(bei)測(ce)(ce)量(liang)實際值(zhi)。
       大(da)理(li)石平臺檢測(ce)所(suo)用設備分為三類(lei)。
       1、大理石(shi)平臺檢測法通用量具:量塊(kuai)、角(jiao)度塊(kuai)、刀口(kou)尺、大理石(shi)直角(jiao)尺、大理石(shi)平尺等。
       2、大理石平臺檢測(ce)法通用(yong)量儀:千(qian)分(fen)(fen)尺、千(qian)分(fen)(fen)表(biao)、百分(fen)(fen)表(biao)、測(ce)微(wei)表(biao)等。
       3、大理石平臺檢測法輔助工具(ju):大理石平臺、圓(yuan)柱、鋼球、方(fang)(fang)鐵(大理石方(fang)(fang)箱(xiang))、V形鐵、大理石表座等。
      根據相對測量工具的不同,大理石(shi)平臺檢測分(fen)為指示器法(fa)和光(guang)隙法(fa)兩種。
       1、指示器(qi)法(fa)(fa):指示器(qi)法(fa)(fa)是(shi)(shi)(shi)以指示表(biao)(biao)(百分表(biao)(biao)、千分表(biao)(biao)或(huo)測(ce)(ce)(ce)(ce)微表(biao)(biao))將被測(ce)(ce)(ce)(ce)尺(chi)寸(cun)(cun)于(yu)(yu)標(biao)準尺(chi)寸(cun)(cun)進行比較,測(ce)(ce)(ce)(ce)出被測(ce)(ce)(ce)(ce)尺(chi)寸(cun)(cun)于(yu)(yu)標(biao)準尺(chi)寸(cun)(cun)之差(cha)(cha)的一(yi)種(zhong)方法(fa)(fa)。測(ce)(ce)(ce)(ce)量時用大(da)理石平(ping)(ping)臺(tai)工作(zuo)面(mian)(mian)作(zuo)為(wei)測(ce)(ce)(ce)(ce)量基面(mian)(mian),按一(yi)定的布點方式,用指示表(biao)(biao)逐點測(ce)(ce)(ce)(ce)量并(bing)記(ji)(ji)錄(lu)讀數(shu)(shu),然后按一(yi)定的方法(fa)(fa)評(ping)出平(ping)(ping)面(mian)(mian)度(du)(du)誤差(cha)(cha)值。原則上應采用小區域(yu)法(fa)(fa)評(ping)定平(ping)(ping)面(mian)(mian)度(du)(du)誤差(cha)(cha),但(dan)是(shi)(shi)(shi)在實際檢測(ce)(ce)(ce)(ce)中(zhong)經常采用近似(si)的評(ping)定方法(fa)(fa),一(yi)種(zhong)方法(fa)(fa)是(shi)(shi)(shi)在測(ce)(ce)(ce)(ce)量前,調整被測(ce)(ce)(ce)(ce)實際表(biao)(biao)面(mian)(mian)上相距遠(yuan)的三(san)點距大(da)理石平(ping)(ping)臺(tai)等高(gao),然后在被測(ce)(ce)(ce)(ce)表(biao)(biao)面(mian)(mian)上均(jun)勻劃線布點逐點進行測(ce)(ce)(ce)(ce)量并(bing)記(ji)(ji)錄(lu)數(shu)(shu)據,取各(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)點中(zhong)的大(da)讀數(shu)(shu)值與(yu)小讀數(shu)(shu)值之差(cha)(cha),作(zuo)為(wei)被測(ce)(ce)(ce)(ce)的平(ping)(ping)面(mian)(mian)度(du)(du)誤差(cha)(cha)值,此法(fa)(fa)稱為(wei)三(san)點法(fa)(fa)。
       對(dui)角(jiao)線法和三點(dian)法都不符(fu)合(he)小條件,所以評(ping)(ping)定出的(de)(de)誤差(cha)(cha)值(zhi)均(jun)大于按小區域法評(ping)(ping)定出的(de)(de)誤差(cha)(cha)值(zhi),但是(shi),由于這兩種方法檢測方便且經濟(ji)實用,所以仍被實際測量所采用,如(ru)發生爭議,應(ying)以小區域法評(ping)(ping)定的(de)(de)結果(guo)作為仲裁依據。

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