泰蘭德花崗石測微臺螺旋測微儀的注意事項

①測(ce)量時，在(zai)測(ce)微螺桿快靠(kao)近(jin)被(bei)測(ce)物體時應停止使用(yong)旋(xuan)鈕(niu)，而改用(yong)微調旋(xuan)鈕(niu)，避免產(chan)生(sheng)過大的(de)壓力，既可使測(ce)量結果   ，又能保護螺旋(xuan)測(ce)微儀。

②在讀(du)數時，要注意固定刻(ke)度尺上表示(shi)半毫米的刻(ke)線是否已(yi)經露(lu)出。

③讀數時，千分位有(you)一位估讀數字，不能(neng)隨便扔掉(diao)，即使固定刻度的(de)零點正(zheng)好(hao)與可動(dong)刻度的(de)某一刻度線(xian)對齊，千分位上(shang)也(ye)應讀取為(wei)“0”。

④當小砧和測(ce)微螺桿并攏(long)時，可(ke)動刻度(du)的(de)零點與固定刻度(du)的(de)零點不相重合(he)，將出(chu)現*，應加以修正，即在   后測(ce)長度(du)的(de)讀(du)數(shu)上去掉(diao)*的(de)數(shu)值。

泰蘭德花崗石測微臺技術要求
1.平板(ban)工作面(mian)上(shang)不(bu)得(de)有嚴(yan)重影響外(wai)觀(guan)和(he)使用(yong)性能(neng)的砂孔(kong)、氣孔(kong)、裂紋、夾渣、縮(suo)松、劃痕、碰傷、銹跡等缺(que)陷。
2.平板非(fei)工作面上的凹(ao)陷或掉角允許(xu)修補。
3.平板應采用細晶(jing)粒、結構(gou)致密的輝長巖、輝綠巖、花崗石（黑云母應小(xiao)于(yu)5%、彈性(xing)模量應大(da)于(yu)0.6×10—4Kg/cm²、吸(xi)水率應小(xiao)于(yu)0.25%）等材料(liao)制造，其工作面硬度(du)應大于(yu)70HS。
4.平板(ban)工(gong)作(zuo)面的(de)表面粗糙度(du)Ra的(de)量大允許值為0.32~0.63um,側面為10um。
5.平板側面(mian)對工作面(mian)的(de)垂直度公差(cha)和平板兩鄰側面(mian)的(de)垂直度公差(cha)均按GB/T1184中(zhong)規(gui)定的(de)12級。
6.平板(ban)工作面中(zhong)央的集中(zhong)載(zai)(zai)荷(he)區域、施加(jia)的額定(ding)載(zai)(zai)荷(he)和允許撓度值見表(biao)1的規定(ding)。
7.000級(ji)和00級(ji)平板(ban)建(jian)議(yi)不設(she)置搬運(yun)手柄。
8.若0級和1級平板(ban)面(mian)上的(de)設置螺紋孔(kong)（或溝糟），其部位應(ying)不高于工作面(mian)。

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